光学测试仪器/

灰阶响应时间测试仪

技术指标:
探测器:高速光电倍增管,自动增益调整
光谱响应:280-850nm,符合CIE V(λ)曲线
镜头类型:50mm C-MOUNT接口
控制界面:USB
最大采样频率:500KHZ
A/D分辨率:16位
响应时间测试精度:<0.1ms
Flicker: <±0.3db

  • 产品详情

技术指标:
探测器:高速光电倍增管,自动增益调整
光谱响应:280-850nm,符合CIE V(λ)曲线
镜头类型:50mm C-MOUNT接口
控制界面:USB
最大采样频率:500KHZ
A/D分辨率:16位
响应时间测试精度:<0.1ms
Flicker: <±0.3db

软件功能:
手动测试:采样时间设定,波形记录
RT功能:特定灰阶反应时间
GLRT: 全灰阶反应时间
Flicker测试
自动绘制3d图表
特点:
灰阶间隔可自定义
手动测量或者自动测量模式
3D显示灰阶响应时间
特殊的滤波算法,过滤各种杂讯
可与客户信号源对接

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